Российский химико-аналитический портал  химический анализ и аналитическая химия в фокусе внимания ::: портал химиков-аналитиков ::: выбор профессионалов  
карта портала ::: расширенный поиск              
 


ANCHEM.RU » Форумы » 1. Аналитический форум ...
  1. Аналитический форум | Список форумов | Войти в систему | Регистрация | Помощь | Последние темы | Поиск

Форум химиков-аналитиков, аналитическая химия и химический анализ.

Поверхностные свойства материалов >>>

  Ответов в этой теме: 4

[ Ответ на тему ]


Автор Тема: Поверхностные свойства материалов
Nirlem
Пользователь
Ранг: 3

08.09.2010 // 14:56:06     
подскажите пожалуйста, при анализе поверхности материалов методами электронной микроскопии, рентгеновскими и ИК методами информацию о какой толщине поверхностного слоя можно получать? Заранее спасибо
ANCHEM.RU
Администрация
Ранг: 246
clatrat
Пользователь
Ранг: 1002


08.09.2010 // 23:06:15     
Гм.. Во-первых все зависит от самого материала. Во-вторых. методом электронной микроскопии Вы хоть как ни старайтесь, а глубже поверхности не получится. Ну, по крайней мере, визуально.. ИК-спектроскопией вообще-то смотрят молекулярную структуру,а не поверхность. Хотя, есть варианты...Ну остается только рентген..А тут уж сколько энергии не пожалеете, столько и просветите
Marat
VIP Member
Ранг: 1784


09.09.2010 // 9:00:50     

Nirlem пишет:
подскажите пожалуйста, при анализе поверхности материалов методами электронной микроскопии, рентгеновскими и ИК методами информацию о какой толщине поверхностного слоя можно получать? Заранее спасибо

А можно сузить круг вопросов? Интерес чисто академический или у Вас уже есть электронный микроскоп, рентген и ИК-спектрометр. И какие поверхности интересуют?

Например, по своему направлению могу сказать, что толщину поверхностного слоя можно определять с помощью ИК-спектрометра (различные виды отражения), ИК-микроскопа (так же отражение+поперечный разрез), КР-микроскопа (+конфокальный режим). К заявленному могу добавить химические и механические способы определения, включая термомеханические анализаторы.
Nirlem
Пользователь
Ранг: 3


09.09.2010 // 11:20:57     
Спасибо за ответы! Образец полимерный с нанесенной пленкой и инетересует получаем ли мы информацию о материале или о пленке. Снимали образцы на электронно-сканирующем микроскопе, но хотелось бы исследований другими методами для получения более полной картине о распределении функциональных групп на поверхности и об их концентрации.
Grendel
Пользователь
Ранг: 100


01.10.2010 // 16:13:32     
Толщина покрытия легко определяется рентгенофлуоресцентным методом, покрытие должно быть металлическим.

  Ответов в этой теме: 4

Ответ на тему


ААС, ИСП-АЭС, ИСП-МС - прямые поставки в 2022 году

ПОСЛЕДНИЕ НОВОСТИ ANCHEM.RU:      [ Все новости ]


ЖУРНАЛ ЛАБОРАТОРИИ ЛИТЕРАТУРА ОБОРУДОВАНИЕ РАБОТА КАЛЕНДАРЬ ФОРУМ

Copyright © 2002-2022
«Аналитика-Мир профессионалов»

Размещение рекламы / Контакты