Российский химико-аналитический портал  химический анализ и аналитическая химия в фокусе внимания ::: портал химиков-аналитиков ::: выбор профессионалов  
карта портала ::: расширенный поиск              
 


ANCHEM.RU » Форумы » 1. Аналитический форум ...
  1. Аналитический форум | Список форумов | Войти в систему | Регистрация | Помощь | Последние темы | Поиск

Форум химиков-аналитиков, аналитическая химия и химический анализ.

интерпретация эволюции полос в ИК-спектре >>>

  Ответов в этой теме: 7

[ Ответ на тему ]

Автор Тема: интерпретация эволюции полос в ИК-спектре
Maria_Maria
Пользователь
Ранг: 451

16.05.2014 // 19:47:19     
методом ИК-спектроскопии ДО исследовалось влияние электромагнитного поля высокой напряженности (Длительность импульса не превышала 10 нс, напряженность электрической компоненты поля ~ 10^7 В/м, энергия в импульсе 0.1 Дж, частота повторения импульсов 100 Гц ) на порошкообращные(!) образцы оливина и серпентина. при этом методика подготовки образцов к снятию спектров после обработки заключалась в их растирании в лабораторной мельнице- ступке (Фрич) в течение трех минут.
спектров было отснято 5-6 на образец. разбавление образца 1 к 10. площади полос считались в программе поставщика спектрометра. разница в значения площадей ПП превышает ошибку (то есть ту самую дельту в значения внутри выборки полученной для одного образца)
я была уверена что разницы в спектрах не будет -не тут то было.
серпентин: ну то что площадь пика отвечающего кристаллической воде (3400 см-1) как-то (скажем так не линейно) зависит от времени обработки-это я еще могу пережить и даже пытаться объяснять микроволновой составляющей электромагнитного поля.но как так может статься что и площади полос отвечающих колебаниям SiO4 меняется в зависимости от времени обработки на величину превышающую ошибку?причем значительно превышающую.
оливин: но опять же площадь ПП отвечающей колебаниям связи кремний-кислород как-то изменяется.
вопрос - в чем дело? в методике?
или это (прошу не казнить, если бред пишу) можно интерпретировать как изменение структуры поверхности? если да-то как это подтвердить или опровергнуть?
ANCHEM.RU
Администрация
Ранг: 246
sinthetic
Пользователь
Ранг: 3640


17.05.2014 // 0:36:49     

Maria_Maria пишет:
методом ИК-спектроскопии ДО исследовалось влияние электромагнитного поля высокой напряженности (Длительность импульса не превышала 10 нс, напряженность электрической компоненты поля ~ 10^7 В/м, энергия в импульсе 0.1 Дж, частота повторения импульсов 100 Гц ) на порошкообращные(!) образцы оливина и серпентина. при этом методика подготовки образцов к снятию спектров после обработки заключалась в их растирании в лабораторной мельнице- ступке (Фрич) в течение трех минут.
спектров было отснято 5-6 на образец. разбавление образца 1 к 10. площади полос считались в программе поставщика спектрометра. разница в значения площадей ПП превышает ошибку (то есть ту самую дельту в значения внутри выборки полученной для одного образца)
я была уверена что разницы в спектрах не будет -не тут то было.
серпентин: ну то что площадь пика отвечающего кристаллической воде (3400 см-1) как-то (скажем так не линейно) зависит от времени обработки-это я еще могу пережить и даже пытаться объяснять микроволновой составляющей электромагнитного поля.но как так может статься что и площади полос отвечающих колебаниям SiO4 меняется в зависимости от времени обработки на величину превышающую ошибку?причем значительно превышающую.
оливин: но опять же площадь ПП отвечающей колебаниям связи кремний-кислород как-то изменяется.
вопрос - в чем дело? в методике?
или это (прошу не казнить, если бред пишу) можно интерпретировать как изменение структуры поверхности? если да-то как это подтвердить или опровергнуть?


У любых природных минералов есть "допуск" на отклонение по составу. Чем больше степень превращения исходного минерала, тем больше этот допуск. А Вы вообще имеете дело с породами, пусть и с преобладанием мономинеральной составляющей.
Это к чему? Если желаемо получать какие-то характеристики, то надо пользоваться синтетическими аналогами. И потом пытаться подтвердить их на природных. А на своих образцах только лишнего запутаетесь.
Maria_Maria
Пользователь
Ранг: 451


29.05.2014 // 15:04:22     

sinthetic пишет:
Это к чему? Если желаемо получать какие-то характеристики, то надо пользоваться синтетическими аналогами. И потом пытаться подтвердить их на природных. А на своих образцах только лишнего запутаетесь.
спасибо! я поняла.тем более что сам по себе оливин есть изоморфный ряд от магниевого до железистого силиката.в общем ясно. спасибо.
Duke
Пользователь
Ранг: 512


30.05.2014 // 17:32:00     
А с чего вы взяли, что спектры не должны меняться? На мой взгляд еще как должны. Большинство даже стабильных минералов имеют неравновесное состояние кристаллической решетки - ликвацию, неоднородность примесей, дислокации и прочее. Особенно оливин, он запросто может быть по краям фаялитным, а внутри форстеритным. Серпентин - это вообще очень сложная структура у корой самые широкие возможности к разнообразному перестроению. Под действием переменного электромагнитного поля в кристаллах может происходить разупрочнение, сверхтруктурное упорядовачивание, полигонизация и прочее. Естественно это будет влиять на жесткость связи.
Надо бы с этих образцов снять прецизионные дифрактограммы, и понять как ваше воздействие меняет межплоскостные расстояния и упорядоченность по сверхструктурным пикам.
Duke
Пользователь
Ранг: 512


30.05.2014 // 17:50:53     
Это даже если не учитывать наклеп, дислокационное упрочнение решетки, произошедшее при истирании в ступке. Релаксация накопленных напряжений очевидно должна произойти. Надо бы попробовать еще отпустить образцы и посмотреть, что изменится, только чтоб серпентин остался серпентином.
Maria_Maria
Пользователь
Ранг: 451


02.06.2014 // 11:05:44     
Редактировано 1 раз(а)


Duke пишет:
А Под действием переменного электромагнитного поля в кристаллах может происходить разупрочнение, сверхтруктурное упорядовачивание, полигонизация и прочее. Естественно это будет влиять на жесткость связи.
где можно почитать про это?

Duke пишет:Надо бы с этих образцов снять прецизионные дифрактограммы, и понять как ваше воздействие меняет межплоскостные расстояния и упорядоченность по сверхструктурным пикам.
а дифракция медленных электронов не подойдет?я так погуглила и что-то у меня сложилось ощущение, что прецизионная порошковая дифрактометрия это такая же редкость (в смысле установок мало) как синхротрон в рентгеновской спектроскопии.
Каталог ANCHEM.RU
Администрация
Ранг: 246
Денситометр сканирующий для электрофореза Solar DM 2120 Денситометр сканирующий для электрофореза Solar DM 2120
Денситометр сканирующий DM 2120 предназначен для разделения методом электрофореза биологически активных веществ на различных типах носителей (агарозный гель, ацетатцеллюлоза и др.) с последующим количественным анализом.
[ Информация из каталога оборудования ANCHEM.RU ]
Duke
Пользователь
Ранг: 512


02.06.2014 // 12:21:33     
Порошковая дифракция по Брэггу-Брентано - самый распространенный метод структурного анализа. Есть практически в каждой материаловедческой и минералогической лаборатории.
Электрострикция и обратный пъезоэффект описаны в курсе кристаллографии и кристаллофизики. Шаскольская, для начинающего - хороший учебник. Васильев для продвинутых физиков. В большом издании физики твердого тела Томпсона можно также что-то полезное подглядеть.
Движение дислокаций и релаксация напряжений, рекристаллизация, коалесценция, полигонизация, влияние примесных атомов и включений очень подробно рассматривается в курсе металловедения. В последних книгах можно найти сведения и о электромагнитной обработке металлов. Металлы это поликристаллы, и все что работает в них, также применимо в разной мере и ко всем кристаллическим соединениям.
Вот в диссертации можно выписку найти и ссылку на литературу.
www.dissercat.com/content/povyshenie-effektivnosti-primeneniya-magnitno-impulsnoi-obrabotki-rud-s-tselyu-ikh-razuproch
Maria_Maria
Пользователь
Ранг: 451


02.06.2014 // 13:13:37     
Редактировано 1 раз(а)


Duke пишет:
Порошковая дифракция по Брэггу-Брентано - самый распространенный метод структурного анализа.

спасибо! я просто думала это акая-то особенная дифрактометрия (оснащенная например каким-то особенным излучением),которую не на любом приборе сделаешь.

  Ответов в этой теме: 7

Ответ на тему



ПОСЛЕДНИЕ НОВОСТИ ANCHEM.RU:      [ Все новости ]


ЖУРНАЛ ЛАБОРАТОРИИ ЛИТЕРАТУРА ОБОРУДОВАНИЕ РАБОТА КАЛЕНДАРЬ ФОРУМ

Copyright © 2002-2022
«Аналитика-Мир профессионалов»

Размещение рекламы / Контакты