Российский химико-аналитический портал | химический анализ и аналитическая химия в фокусе внимания ::: портал химиков-аналитиков ::: выбор профессионалов |
|
ANCHEM.RU » Форумы » 1. Аналитический форум ... |
академический вопрос по п/п >>>
|
Автор | Тема: академический вопрос по п/п |
fisik Пользователь Ранг: 2 |
01.04.2009 // 10:12:00
Чем можно обосновать существенно более высокий выход однозарядных отрицательных ионов GaO- по отношению к NO-, PO-, AsO-, SbO- из полупроводников GaN, GaP, GaAs, GaSb соответственно, легированых кислородом. Эмиссия обусловлена бомбардировкой ионным пучком. Энергией связи оксидов? Чем меньше, тем вероятнее или наоборот? ЗЫ извиняюсь, если обознался веткой форума. |
ANCHEM.RU Администрация Ранг: 246 |
|
jartsev Пользователь Ранг: 75 |
01.04.2009 // 12:14:08
Как говорится бог создал объём, а дъявол - поверхность. В общем случае да, чем меньше энергия связи, тем вероятнее испарение. Но вся фишка в том что на поверхности могут образовываться такие конструкции, какие в никаком сне не привидятся, а это может качественно влиять на наблюдаемые явления. Форумом ессно ошиблись. Сам я дисертацию защитил на свойствах поверхности CdHgTe, и заявляю вам отвественно, что "там" происходит никто не знает до сих пор, при всех успехах физики полупроводников. Так же не советую копаться в научных статьях, независимо от уровня журнала. Учёные строят модели при диком спектре всевозможных допущений и условностей. Если вы пишите дипломную работу, подтягивайте за уши теорию к эксперименту, защищайтесь и бегите от этой тематики прочь. |
pupyshev VIP Member Ранг: 529 |
01.04.2009 // 12:15:26
Редактировано 1 раз(а) Эффективность образования отрицательных ионов типа МО- определяется энергией сродства к электрону для исходной частицы МО и концентрацией МО в системе. Последнее зависит от энергии связи М-О в частице. Чем больше энергия связи, тем больше образуется МО, тем больше вероятность образования МО-. Чем больше энергия сродства к электрону - тем больше вероятность образования МО-. Если полный химический состав системы известен и можно оценить уровень температуры в точке ионной бомбардировки, то можно рассчитать концентрации частиц МО и даже некоторых ионов МО-. (Pupyshev A.A. Surikov V.T. Application of negative ions in ICP-MS // Spectrochim Acta. Part B. 2004. P. 1021-1031) |
fisik Пользователь Ранг: 2 |
01.04.2009 // 15:29:16
pupyshev, спасибо. Зароюсь в справочники и попробую найти зависимость. jartsev, угу, поверхность - ад сущий. Но от этого становится только интереснее ее ковырять со всех возможных сторон |
|
||
Ответов в этой теме: 3 |
|
ЖУРНАЛ | ЛАБОРАТОРИИ | ЛИТЕРАТУРА | ОБОРУДОВАНИЕ | РАБОТА | КАЛЕНДАРЬ | ФОРУМ |
Copyright © 2002-2022 «Аналитика-Мир профессионалов» |
Размещение рекламы / Контакты |