Компания Horiba Scientific, совместно с компанией Nytek Instruments, 14 мая 2009 года представляет семинар «Методы анализа тонких пленок и покрытий». Семинар будет посвящен практическим аспектам использования методов анализа тонких пленок: эллипсометрии и спектроскопии тлеющего разряда.
На семинаре будут рассмотрены теоретические основы данных методик, а главное, реальные примеры для анализа полупроводниковых пленок и многослойных структур, оптических покрытий, солнечных батарей и мониторов и многого другого. Одной из основных сложностей эллипсометрии является решение обратной задачи. Поэтому отдельная лекция будет посвящена работе с программным обеспечением для обработки данных эллипсометрии, включая практическую работу с ПО.
ПРОГРАММА СЕМИНАРА
9:30-10:30 Регистрация участников семинара
10:30-10:50 Приветствие участников семинара.
О компании Horiba Scientific
10:50-11:50 Спектральная эллипсометрия
• Теоретические основы метода
• Эллипсометры компании Horiba Scientific
11:50-12:50 Практическое применение метода
Примеры для анализа:
• полупроводниковых пленок
• многослойных структур
• оптических покрытий
• солнечных батарей
12:50-13:10 Кофе—брейк
13:10-14:00 Программное обеспечение
Работа с программным
обеспечением для обработки
данных эллипосметрии
14:00-15:00 Метод элементного анализа тонких пленок
спектроскопия тлеющего разряда
15:00-16:00 Кофе—брейк
РЕГИСТРАЦИОННАЯ ФОРМА
Место проведения: г. Москва, ул. Гостиничная д.9а корп. 3, в конференц-зале гостиницы «Восток»
Дата проведения: 14 мая 2009 года
Контакты: Эльвира Аникина, менеджер по маркетингу ЗАО «Найтек Инструментс»
Тел./Факс: +7(495) 661 06 81, Моб.тел.:+7(926) 711 25 34, www.nytek.ru, www.horiba.com/Scientific
Добавить 