Российский химико-аналитический портал  химический анализ и аналитическая химия в фокусе внимания ::: портал химиков-аналитиков ::: выбор профессионалов  
карта портала ::: расширенный поиск              
 


ANCHEM.RU » Литература » Справочные, учебные материалы / книги » ...

Тезисы VII конференции "Аналитика Сибири и Дальнего Востока - 2004" » Пленарные лекции » ...

АНАЛИЗ ПОВЕРХНОСТИ:
ВОЗМОЖНОСТИ ФИЗИЧЕСКИХ МЕТОДОВ

А.И. Боронин

Институт катализа им. Г.К. Борескова. проспект академика Лаврентьева 5, Новосибирск 630090
e-mail: boronincatalysis.nsk.su

    Анализ поверхности твердых тел является необходимой составной частью исследований в целом ряде областей науки и техники, таких как физика полупроводников и микроэлектроника, коррозионные и теплозащитные покрытия, гетерогенный катализ, технологии синтеза наноматериалов и т.д. Интенсивность аналитических исследований поверхности значительно возросла в последние 10-20 лет в связи с инструментальным развитием методов, основанных как на известных, так и новых физических эффектах.

    В данной лекции рассматривается современное состояние в области применения методов анализа поверхности, использующих различные физические принципы и явления. Основное внимание уделяется методам, основанным на энергетическом анализе рассеянных электронов, ионов и фотонов при их воздействии на поверхность твердых тел. Проводится классификация методов по типу зондирующих излучений и механизму анализа рассеянных излучений и частиц. Приводятся примеры, показывающие аналитические возможности современных методов анализа поверхности, где в качестве зондирующего излучения применяется синхротронное излучение.

    Определенное внимание уделяется методам деструктивного и недеструктивного воздействия на поверхность анализируемого образца, показаны возможности современных методов, используемых при построении концентрационного профиля элементов по глубине образца.

    Наряду с представлением физических основ и конкретных вариантов реализации методов обсуждается их аппаратурное оформление, рассматривается их чувствительность и селективность, а также принципиальные ограничения и возможности. Обсуждаются факторы, управляющие конкретной методикой, рассматривается роль основных параметров и варианты методов.
 

« Назад | Содержание | Далее »
 


ААС, ИСП-АЭС, ИСП-МС - прямые поставки в 2022 году

ПОСЛЕДНИЕ НОВОСТИ ANCHEM.RU:      [ Все новости ]


ЖУРНАЛ ЛАБОРАТОРИИ ЛИТЕРАТУРА ОБОРУДОВАНИЕ РАБОТА КАЛЕНДАРЬ ФОРУМ

Copyright © 2002-2022
«Аналитика-Мир профессионалов»

Размещение рекламы / Контакты