bf109xxl
Пользователь
Ранг: 1727
|
23.05.2008 // 2:38:56
Редактировано 1 раз(а)
Leshij пишет: Никто ничего внятного на счет лазерно эмиссионного спектрометра не сказал. А он работает и все перечисленные элементы, за исключением водорода, определяет на уровне 1-10 ppm, не забываем о чистых газах, переведении в жидкую фазу, которые здесь не требуются.
Ну так и точность ниже, плюс, матричные эффекты, особенно - для ИКшных. Нужны стандарты с аналогичной матрицей или внутренний стандарт, что далеко не всегда возможно.
Получается и прибор не очень дорог
Что такое "не очень дорог"? Лазеры весьма недешевы.
Потом на РФА сложная калибровка.
В чем ее сложность по сравнению с LIBS?
Кроме того у лазерного метода есть еще интересноя особенность, можно смотреть распределение концентрации элементов по глубине образца, как бы постепенно прожигая слой за слоем в толще аналита - это актуально для различных пленок и в производстве полупроводников.
Только вот анализ этот пока - качественный. А количественный лишь разрабатывается и для рутинных измерений слишком сложен. И требует этот анализ либо специфических образцов, либо учета эффектов кратерообразования (см. например статью в JAAS “A mathematical framework for modeling the compositional depth profiles obtained by pulsed laser ablation” , автор - Louis St.Onge - к сожалению, недавно безвременно ушедший). А если абляционные свойства слоев сильно разнятся - тут вааще случай почти неоперабельный.
|