Российский химико-аналитический портал  химический анализ и аналитическая химия в фокусе внимания ::: портал химиков-аналитиков ::: выбор профессионалов  
карта портала ::: расширенный поиск              
 


ANCHEM.RU » Форумы » 1. Аналитический форум ...
  1. Аналитический форум | Список форумов | Войти в систему | Регистрация | Помощь | Последние темы | Поиск

Форум химиков-аналитиков, аналитическая химия и химический анализ.

Оборудование по измерению размеров наночастиц >>>

  Ответов в этой теме: 22
  Страница: 1 2 3
  «« назад || далее »»

[ Ответ на тему ]


RDX
Пользователь
Ранг: 135


25.05.2009 // 15:00:59     
Извините что влез со своим.

А когда надо сделать такой анализ:
исследование структуры поликристаллических веществ (рентгеноструктурный анализ порошков, порошковая дифракция ренгеновских лучей), то какие приборы используют и можно ли провести этот анализ в Москве и Московской обл. Сколько будет стоить такой анализ?
ANCHEM.RU
Администрация
Ранг: 246
Smic
Пользователь
Ранг: 3


26.05.2009 // 9:33:12     
Возник еще один вопрос. А в России производится аналитическое оборудование, которое способно производить измерения на наноуровне? Если кто знает, каково соотношение по стоимости между российским и иностранным оборудованием?
jartsev
Пользователь
Ранг: 75


26.05.2009 // 13:07:15     
Вах, какая тема! Всегда считал, что этот роснано только деньги умеет кушать. А кому нибудь довелось таки узнать о реальной пользе от этий нанопыли ?
Iceberg_Rus
Пользователь
Ранг: 5


20.07.2009 // 13:59:23     
В продолжение темы про PCS... У PCS будут проблемы при измерении размеров частиц-агломератов или просто двух рядом расположенных частиц в паре крупная-мелкая... Другими словами, если мелкая частица будет находиться в одном участке измерения с более крупной, то PCS ее не увидит, даже с разными траекториями движения. Поэтому улучшение теории PCS до PCCS (кросс-корреляция) устраняет такие проблемы. В PCCS используется 2 лазера под углом к друг другу.
foZgen
Пользователь
Ранг: 32


21.07.2009 // 11:53:13     

Iceberg_Rus пишет:
В продолжение темы про PCS... У PCS будут проблемы при измерении размеров частиц-агломератов или просто двух рядом расположенных частиц в паре крупная-мелкая... Другими словами, если мелкая частица будет находиться в одном участке измерения с более крупной, то PCS ее не увидит, даже с разными траекториями движения. Поэтому улучшение теории PCS до PCCS (кросс-корреляция) устраняет такие проблемы. В PCCS используется 2 лазера под углом к друг другу.

Кросскореляционная конфигурация не имеет никакого отношения к описанным проблемам. Она лишь позволяет отделить однократно рассеяный свет от многократного, без чего PCS нельзя использовать.
Каталог ANCHEM.RU
Администрация
Ранг: 246
Учебный центр «МЕТРОН» Учебный центр «МЕТРОН»
Учебный центр ФГУП «УНИИМ». Повышение квалификации специалистов предприятий по вопросам метрологии, метрологического обеспечения, сертификации, аккредитации в различных сферах деятельности.
Fox26
Пользователь
Ранг: 2


21.07.2009 // 14:16:50     
Редактировано 1 раз(а)

у метода DSL ограничений фундаментальных может и нет, но кто-нибуть реально определял частицы размером меньше 10нм на таких прибора? Мне кажется шум будет настолько велик, что врятли результаты назовешь достоверными. У кого-нибуть есть практический опыт? поделитесь!
foZgen
Пользователь
Ранг: 32


21.07.2009 // 15:35:44     

Fox26 пишет:
у метода DSL ограничений фундаментальных может и нет, но кто-нибуть реально определял частицы размером меньше 10нм на таких прибора? Мне кажется шум будет настолько велик, что врятли результаты назовешь достоверными. У кого-нибуть есть практический опыт? поделитесь!

Определял частицы до одного нанометра в диаметре. Для нелюминисцирующих частиц никаких проблем не было. Ну если не считать проблемой то, что для очень мелких частиц будет большее расхождение с результатами электронной микроскопии.
"Шум" зависит от интенсивности рассеяного света и обычно нивелируется увеличением концентрации частиц (если это возможно) и времени измерения.
Fox26
Пользователь
Ранг: 2


21.07.2009 // 16:01:01     
Редактировано 2 раз(а)

а расхождение с электронной микроскопией не настораживает? все -таки микроскопия это прямой метод.
foZgen
Пользователь
Ранг: 32


21.07.2009 // 17:42:45     

Fox26 пишет:
а расхождение с электронной микроскопией не настораживает? все -таки микроскопия это прямой метод.

Не настораживает. Микроскопия хоть и прямой метод, но показывает "высушенные" частицы. DLS-же показывает реальные частицы в растворе, где очень большую роль играет поверхность движущихся частиц (потому и гидродинамический радиус). Очень многие частицы имеют "волосатую" поверхность, что сильно сказывается на их движении в растворе. В случае крупных частиц это не принципиально (если только не измеряется прямое взаимодействие частиц с другой поверхностью), а вот для мелких частиц это сильно заметно.
В любом случае сочетание TEM/DLS является классическим на сегодняшний день.
CHS
Пользователь
Ранг: 4


08.06.2012 // 23:03:21     
Редактировано 1 раз(а)

Я работаю на Photocor. Из реальных образцов минимальный попадался наночастицы серебра в органике средний размер 11 нм. Из-за очень низкой концентрации частиц были проблемы, но потом измерил. Вообще, если образец более или менее монодисперсный и достаточная концентрация, то динамическое рассеяние света подходи идеально для размеров от 0,5-1 нм до 1-5 мкм. Получить распределение частиц по размерам при сильной полидисперсности данным методом не получится.
Калибровочные наночастицы латекса измеряются "на ура" за несколько секунд. В Москве могу померить Ваши пробные образцы.

  Ответов в этой теме: 22
  Страница: 1 2 3
  «« назад || далее »»

Ответ на тему


ААС, ИСП-АЭС, ИСП-МС - прямые поставки в 2022 году

ПОСЛЕДНИЕ НОВОСТИ ANCHEM.RU:      [ Все новости ]


ЖУРНАЛ ЛАБОРАТОРИИ ЛИТЕРАТУРА ОБОРУДОВАНИЕ РАБОТА КАЛЕНДАРЬ ФОРУМ

Copyright © 2002-2022
«Аналитика-Мир профессионалов»

Размещение рекламы / Контакты