| Российский химико-аналитический
портал |
химический анализ и аналитическая химия в фокусе внимания ::: портал химиков-аналитиков ::: выбор профессионалов |
 |
|
| ANCHEM.RU » Форумы » 1. Аналитический форум ... |
 |
Коррекция фона при рентгенофлуоресцентном анализе >>>
|
 |
| Автор | Тема: Коррекция фона при рентгенофлуоресцентном анализе | ||
|
Брат Евген Пользователь Ранг: 13 |
 20.04.2010 // 18:29:51
Прочитал про коррекцию фона по интенсивности комптоновской линии материала анода. Казалось бы, всего то ничего нужно: 2 образца различной плотности с нулевым содержанием аналита - и вперед! Чем легче матрица, тем выше фон, строится прямая коррекции и т.д.... Но почему-то не получается! В качестве образцов брал олово и алюминий. Может, кто-нибудь занимался этим вопросом? |
||
|
ANCHEM.RU Администрация Ранг: 246 |
|||
|
Duke Пользователь Ранг: 512 |
21.04.2010 // 12:43:52
Наоборот!! Сечение рассеянья увеличивается с ростом плотности. Могу формулу написать. На память помню. Не прямая, а кривая. Собственно, наверно поэтому и не получается. |
||
|
Брат Евген Пользователь Ранг: 13 |
21.04.2010 // 22:37:19
Чем тяжелее матрица, тем ниже интенсивность линии Rh Ка(compton). (анод родиевый) Прямая-потому что удалось вскрыть программу , поставленную к прибору. Там построена именно ПРЯМАЯ коррекции, причем по четырем точкам. Указаны только названия стандартов, а химсостава для этих образцов нету  Гуголь тоже не знает.Встроенная программа работает отлично, определяя низкие содержания, моя же не хочет... |
||
|
Duke Пользователь Ранг: 512 |
22.04.2010 // 8:53:06
Редактировано 1 раз(а) Теперь верно. Ранее вы писали 'фон', а фон это в основном когерентно (релеево) рассеяное излучение - увеличивается с ростом Z(ср. атомного номера ). Сечение комптоновского рассеянья слабо меняется с Z, но поглощение его пробой растет с Z, и в итоге он уменьшается, да. Простите, но она кривая при любом раскладе. У нее есть близко прямые участки ( от Al->Ge можно считать прямой, далее идет бугор и резкий изгиб с минимумом через Rh(K-края специфического поглощения кончились), и далее опять почти прямой участок до L-края, еслиб он был конечно, Лауренция в природе нет  ).Т.е. 2 прямые. Видимо по этому 4 точки для двух линий. Вы взяли одну точку одного линейного диапазона и другую точку в другом линейном диапазоне, чего вы спрашивается ожидали? Вам надо взять для одного диапазона Al, Cu к примеру, в другом диапазоне Sn, Pb. Думаю будет все ок тогда. Зачем вам другая, если эта отлично работает? |
||
|
Брат Евген Пользователь Ранг: 13 |
22.04.2010 // 23:42:01
Встроенная программа-только для железной основы. Есть свои программы для титановой, медной, алюминиевой... Недавно возникла необходимость анализа низких концентраций, всего в 1,5-3 раза выше статистического предела обнаружения. Вот и решил "позаимствовать" наработки. Способ "померял слева, померял справа-полусумма" - не работает, измерение фона в 3-4-х точках для более точного учета делает программу громоздкой и сильно затягивает анализ (спектрометр сканирующий) |
||
|
Брат Евген Пользователь Ранг: 13 |
22.04.2010 // 23:52:06
Может, я не совсем внятно разъяснил модель коррекции. Постараюсь исправить недоразумение. А то морочу людям голову Смысл коррекции по комптоновски рассеянной линии материала анода состоит в том, что отношение интенсивности линии Rh Ka (compton) к интенсивности фона в определенной точке спектра есть величина постоянная (для этой длины волны). Измерив соотношение интенсивностей Rh Ka-аналит в нескольких образцах (разумеется, разных по Zср и с нулевым содержанием аналита) можно построить прямую коррекции. |
||
|
Каталог ANCHEM.RU Администрация Ранг: 246 |
|
||
|
Duke Пользователь Ранг: 512 |
23.04.2010 // 9:32:23
Все эти элементы лежат в первом диапазоне линейности. Соответственно для построения прямой коррекции в этом диапазоне возьмите Al и Cu. Достаточно 2х точек будет прямая. Если матрица будет из родия и выше придется строить другую прямую (Sn-Pb) и считать по ней. Никаких 'усреднений' справа-слева. Если я правильно понял отношение комтоновской линии к фону ордината, атомный номер абсцисса. Все для одной длины волны. Прямая на каждый аналит отдельная, так? |
||
|
Брат Евген Пользователь Ранг: 13 |
24.04.2010 // 0:02:30
не совсем так. Абсцисса- интенсивность комптоновской линии родия, Ордината-интенсивность фона на линии аналита. По двум стандартам (разумеется, не содержащих анализируемого компонента) строится прямая коррекции; при анализе в образце измеряют линию родия, затем программа по графику коррекции определяет интенсивность фона и учитывает его. |
||
|
zmitrevitch1 Пользователь Ранг: 2 |
27.04.2010 // 13:12:36
Сигнал спектрального фона при рентгенофлуоресцентном анализе зависит от многих факторов, и может заметно меняеться даже внутри одного и того же анализируемого материала. Если хотите получить более подробную информацию, сформулируйте проблему или аналитическую задачу. Пишите по адресу: zmitrevitch{coбaчkа}mail.ru |
| |
||
|
Ответов в этой теме: 8 |
||
| ЖУРНАЛ | ЛАБОРАТОРИИ | ЛИТЕРАТУРА | ОБОРУДОВАНИЕ | РАБОТА | КАЛЕНДАРЬ | ФОРУМ |
| Copyright © 2002-2022 «Аналитика-Мир профессионалов» |
|
Размещение рекламы / Контакты |
[]
