Российский химико-аналитический портал | химический анализ и аналитическая химия в фокусе внимания ::: портал химиков-аналитиков ::: выбор профессионалов |
|
ANCHEM.RU » Форумы » 1. Аналитический форум ... |
Как побороть интерференцию ? (FTIR) >>>
|
Автор | Тема: Как побороть интерференцию ? (FTIR) | ||
Aike Пользователь Ранг: 16 |
17.02.2006 // 18:23:31
Здравствуйте. Моя проблема такая. Измеряется спектр (4000-400 обр.см.) поглощения органической плёнки, нанесённой на кремниевую пластину (плёнка принципиально не может быть отделена от подложки). Спектрограмма имеет "изрезанный" вид, что по-видимому, объясняется многократным переотражением в подложке и интерференцией выходящих из неё лучей. Вопрос: Как избавиться от этой проблемы? Можно, конечно, взять клиновидную подложку, но в настоящий момент под рукой таких нет. Может имеется способ устранить интерференцию на стадии вычисления фурье-трансформант? Ведь толщину подложки легко измерить, а задача об интерферениции в пластине известной толщины давно решена. Если кто знает, что надо делать, прошу откликнуться. Спасибо |
||
ANCHEM.RU Администрация Ранг: 246 |
|||
Marat VIP Member Ранг: 1784 |
18.02.2006 // 18:37:02
Пластинку надо поместить под углом к лучу, а не строго перпендикулярно. Как вариант, можно шлифовкой "ухудшить" зеркальную поверхность пленки или пластины. |
||
Marat VIP Member Ранг: 1784 |
18.02.2006 // 18:47:09
Редактировано 1 раз(а) Строго говоря интерференция проявляется по-другому, в виде синусоиды. Ваш случай больше похож на "зеркальное отражение", которое можно компенсировать математически |
||
Digilab Пользователь Ранг: 75 |
20.02.2006 // 16:41:43
Здравствуйте, Aike! Tакую же проблему встречал в ИНХ СО РАН, они ее решают каким-то образом (в основном, именно поворачивая образец под определенным углом). Лобовое же решение Вашей проблемы - использование приставки зеркального отражения под настильным углом. Если есть вопросы - пишите kvponkratov(at)yandex.ru Кирилл. |
||
Aike Пользователь Ранг: 16 |
21.02.2006 // 18:24:56
Редактировано 8 раз(а) Здравствуйте, Marat. Спасибо, что откликнулись.
В моём случае "изрезанный" надо понимать именно как "синусоидальный", а не "продифференцированный". Дело не в отражении, а именно в интерференции. Крамерс с Кронигом меня не спасут. Ниже привожу картинку. Синусоида отчётливая, но из-за небольшого числа точек, приходящихся на её период, она имеет зубчатый вид. Именно это я имел ввиду, когда говорил про "изрезанность" |
||
Marat VIP Member Ранг: 1784 |
21.02.2006 // 18:45:45
Картинку надо выложить на фотосайт, например, |
||
Каталог ANCHEM.RU Администрация Ранг: 246 |
|
||
Aike Пользователь Ранг: 16 |
21.02.2006 // 18:51:02
Редактировано 1 раз(а)
Извиняюсь за размер картинки, приведённой выше. Какой размер наиболее оптимален? |
||
Marat VIP Member Ранг: 1784 |
21.02.2006 // 19:34:13
По Фурье-преобразованию ничего не скажу, а вот из конечного спектра можно попробовать вычесть синусоиду. Но для этого Вам нужен спектр с хорошим разрешение для того, чтобы форма волны не зависела от волнового числа. Хотя можно и сунусоиду подвергнуть обратному преобразованию и вычесть из интерферограммы... Но лучше начать с "порчи" поверхностей пленки и пластины. Например, потереть шлифовальной бумагой. |
||
Aike Пользователь Ранг: 16 |
21.02.2006 // 20:08:52
Редактировано 2 раз(а) За порчу поверхности подложки придётся заплатить мощным диффузным рассеянием в области длин волн больших характерного размера шероховатости. Но ирония судьбы ещё и в том, что для длинных волн эта "порча" не существенна. Следовательно, в области малых обратных сантиметров опять будет синусоида. Ясно, что синусоида возникает от фурье- преобразования интерференционных дельта-функций, которые сидят в корреляционной функции, измеряемой спектрометром. Достаточно отредактировать корр. ф. (удалить эти пики) и проблема будет решена. Существуют ли програмные средства сделать это? Всё-таки софт к спектрометру ("Николет") прилагается неслабый, неужели в нем нет функции доступа к корр. ф.? |
||
Aike Пользователь Ранг: 16 |
21.02.2006 // 21:16:49
Здравствуйте, Digilab. Спасибо, что откликнулись. Я с вами согласен, использование этой приставки решит проблему. Однако у такого решения есть 2 недостатка. 1. Я не знаю, есть ли такая приставка у людей, на спектрометре которых я работаю. Маловероятно, что есть, т.к. их область исследований далека от измерений спектров плёнок на подложках. Исходя из фотографии этого девайса, могу предположить, что стОит оно где-то 2000 у.е. Поэтому покупка его маловероятна. 2. Принципиальный недостаток этой машины - её нельзя задействовать для спектральных измерений при низких (хотя бы азот) температурах. Габариты этого устройства таковы, что в криостат его не всунешь. В заключение у меня просьба. Не могли бы вы вспомнить какой угол падения использовали в ИНХ СО РАН. |
||
Digilab Пользователь Ранг: 75 |
22.02.2006 // 10:38:58
В заключение у меня просьба. Не могли бы вы вспомнить какой угол падения использовали в ИНХ СО РАН. Уважаемый Aike! А угол поворота всегда будет подбираться экспериментально, поскольку зависит от толщины подложки. В ИНХе так все время и поступают... |
|
||
Ответов в этой теме: 26
|
|
ЖУРНАЛ | ЛАБОРАТОРИИ | ЛИТЕРАТУРА | ОБОРУДОВАНИЕ | РАБОТА | КАЛЕНДАРЬ | ФОРУМ |
Copyright © 2002-2022 «Аналитика-Мир профессионалов» |
Размещение рекламы / Контакты |