Российский химико-аналитический портал  химический анализ и аналитическая химия в фокусе внимания ::: портал химиков-аналитиков ::: выбор профессионалов  
карта портала ::: расширенный поиск              
 


ANCHEM.RU » Литература » Справочные, учебные материалы / книги » ...

Тезисы VII конференции "Аналитика Сибири и Дальнего Востока - 2004" »
Стендовые доклады » Стендовая Секция II.Спектрометрические методы » ...

Анализ различных аллотропов углерода методами РФЭС И AUGER спектроскопии

Пажетнов Е.М., Кощеев С.В., Боронин А.И.

Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН, проспект академика Лаврентьева 5, 630090 Новосибирск, Россия, e-mail: goshacatalysis.nsk.su

Углеродные материалы (графит, карбин, углеродные волокна и пленки различного типа, алмазы и т.д.) широко используются в технике, так как обладают уникальными свойствами высокой температурной стойкостью, прочностью, эластичностью и т.д. Эти свойства варьируются в зависимости от структуры углеродных атомов. С открытием фуллеренов [1] и нанотрубок [2] резко увеличилась сфера применения углеродных материалов, которая стала охватывать наноэлектронику, катализ, эмиссионную электронику и так далее. В данных областях науки и техники особую роль играют как чистота, так и однородность материалов, поэтому изучение, связанное с идентификацией и количественным анализом углеродных аллотропов, представляет важную аналитическую задачу в данной конкретной области.

Для определения типа углеродных структур применены рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС) в совокупности с Оже- электронной спектроскопией (ОЭС). С помощью РФЭС и ЭОС имеется возможность проводить анализ электронной и геометрической структуры образцов. Важной особенностью этих методов является их неразрушающий характер воздействия, при этом требуются сравнительно небольшие затраты времени и средств. Кроме того, следует отметить возможность анализа тонких слоев и пленок, что немаловажно в случае образования фуллеренов, нанотрубок и наноалмазов, а также возможность получения в спектрах информации о химическом составе образцов, что дает контроль химической чистоты материалов.

Применение этих методов требует специальных методик спектроскопической обработки, а также использование эталонов углеродных аллотропов, проводя сравнение со спектрами эталонов, разложение спектральных кривых по компонентам, анализ спектральных сателлитов и так далее [3].

1. Smalley R. at al // Nature. 1985. Vol. 318, P.162-165.

2. Iijima S. // Nature. 1991. Vol. 354. P. 56-61.

3. Е.М. Пажетнов, С.В. Кощеев, А.И. Боронин // КИК 2003, том 44. № 3, с. 450-456.

« Назад | Содержание | Далее »
 


ААС, ИСП-АЭС, ИСП-МС - прямые поставки в 2022 году

ПОСЛЕДНИЕ НОВОСТИ ANCHEM.RU:      [ Все новости ]


ЖУРНАЛ ЛАБОРАТОРИИ ЛИТЕРАТУРА ОБОРУДОВАНИЕ РАБОТА КАЛЕНДАРЬ ФОРУМ

Copyright © 2002-2022
«Аналитика-Мир профессионалов»

Размещение рекламы / Контакты