ПОНЕДЕЛЬНИК, 12 СЕНТЯБРЯ 2005, 10:00 - 19:00 

9:00-10:00

ЗАВТРАК

УТРЕННЕЕ ЗАСЕДАНИЕ. Актовый зал. 10:00 - 13:00

10:00-10:15

ОТКРЫТИЕ КОНФЕРЕНЦИИ

В.Н.Музгин, (УГТУ-УПИ, г. Екатеринбург)

10:15-10:45

АНАЛИТИКА КАК ОСНОВА РАЗВИТИЯ наук о земле: о лаборатории физических и химических методов исследования института геологии и геохимии УРО ран С.П.Вотяков

С.Л.Вотяков, (ИГГ УрО РАН, г.Екатеринбург)

10:45-11:10

новая структура бизнеса компании PERKIN ELMER LAS на территории России и стран снг С.А.Киселев

С.А.Киселев (PerkinElmer, г.Москва)

аналитическое оборудование для спектральных лабораторий производства PERKIN ELMER LAS (США) П.В.Тимофеев

П.В.Тимофеев (PerkinElmer, г.Москва)

11:10-11:30

методики количественного анализа в свете требований гост р 8.563. общие требования к разработке Н.В.Тоболкина

Н.В.Тоболкина, (УНИИМ, г.Екатеринбург)

11:30-12:00

Приготовление образцов для рентгенофлуоресцентного анализа методом сплавления Ю.А.Журавлев

Ю.А.Журавлев (ЛЕК -Инструментс, г.Москва)

12:00-12:40

Дифракционный анализ сырья и промышленных материалов на оборудовании японской корпорации «RIGAKU» С.Н.Поляков

С.Н.Поляков (МГУ, г.Москва)

12:40-13:00

Компания ППМ-СИСТЕМЗ. Системы экспресс-анализа и технологические анализаторы Г.Г.Бабалян, Н.Ю.Паппе, Л.В.Ксенофонтова

Г.Г.Бабалян («ППМ-Системз, г.Москва)

13:00-14:00

ОБЕД

ДНЕВНОЕ ЗАСЕДАНИЕ. Актовый зал. 14:00 - 19:00 

14:00-14:40

ГАЗОВАЯ ХРОМАТОГРАФИЯ С ВРЕМЯПРОЛЕТНЫЫМ МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКИМ ОКОНЧАНИЕМ: ВОЗМОЖНОСТИ ПРИМЕНЕНИЯ В ПРОМЫШЛЕННОСТИ Итка Зростликова, Камил Капрал

Камил Капрал (ЛЕКО Инструменте Пльзень, Прага)

14:40-15:00

использование градуировки по растворам для исп - аэс анализа металлических образцов с искровой абляцией Н.Н.Гаврилюков, В.Н.Самопляс, В.В.Мандрыгин, А.И.Сапрыкин

Н.Н.Гаврилюков (ЗСМК, г.Новокузнецк)

15:00-15:20

Современные технологии компании Миллипор получения сверхчистой воды для тонкого инструментального анализа С.Силаев

С.Силаев (Миллипор, г.Москва)

15:20-15:40

оптимизация условий проведения атомно - эмиссионного анализа материалов на основе оксидных систем В.И.Отмахов

В.И.Отмахов (ТГУ, г.Томск)

15:40-16:00

Приборы для анализа элементного и химического состава вещества Я.Н.Тумаркин

Я.Н.Тумаркин (ОКБ «Спектр», г.С-Петербург)

16:00-16:30

КОФЕ-БРЕЙК

16:30-16:50

атомно - эмиссионный спектральный анализ объектов с органической матрицей с использованием двухструйного дугового плазмотрона Н.П.Заксас, Т.Т.Султангазиева

Н.П.Заксас (ИНХ СО РАН, г.Новосибирск)

16:50-17:10

термодинамическая модель термохимических процессов для метода атомно - эмиссионной спектроскопии с индуктивно связанной плазмой Д.А.Данилова, А.А.Пупышев

Д.А.Данилова (УГТУ - УПИ, г.Екатеринбург)

17:10- 17:30

новейшие разработки компании bruker optics в области инфракрасного спектрального приборостроения А.В.Вахтель, А.В.Головков

А.В.Вахтель (Bruker, г.Москва)

17:30- 17:50

корреляционный анализ как средство снижения случайных ошибок определения в атомно - эмиссионном спектральном анализе С.Б.Заякина, А.Н.Путьмаков, Г.Н.Аношин

С.Б.Заякина (ИНХ СО РАН, г.Новосибирск)

17:50- 18:10

Фотоэлектрические системы SKССD для приборов спектрального анализа С.В.Кондратов, А.М.Жадобин, В.Л.Мусихин, В.И.Власов

С.В.Кондратов (НПП «Славна», г.Заречный)

18:10- 18-30

особенности микроэлементного состава биоминеральной компоненты зубной ткани человека по данным масс - спектрометрии с индуктивно связанной плазмой Д.В.Киселева, С.Л.Вотяков, Н.В.Чередниченко, Ю.В.Мандра, А.А.Пупышев

Д.В.Киселева (ИГГ УрО РАН, г.Екатеринбург)

18:30- 18:50

Исследование аналитических и эксплуатационных характеристик атомно-абсорбционного спектрофотометра «Аналитик 2000» и его модернизация Ю.Б.Атнашев, Ю.Ф.Курзаев, В.И.Баталов, Л.И.Мелких, В.С.Красноперов, Л.И.Журавлева

Ю.Б.Атнашев (ОМЗ, г.Екатеринбург)

18:50- 20:30

СТЕНДОВАЯ СЕССИЯ

19:30- 20:30

ужин

вторник, 13 СЕНТЯБРЯ 2005, 10:00 - 18:30 

9:00-10:00

ЗАВТРАК

УТРЕННЕЕ ЗАСЕДАНИЕ. Актовый зал. 10:00 - 13:00

10:00-10:20

анализ урановых материалов методом масс - спектрометрии с исп В.М.Голик Т.А.Кисель, С.А.Трепачев, А.В.Болотова

А.В.Болотова (ФГУП УЭХК, г.Новоуральск)

10:20-10:45

новые возможности исп - масс - спектрометра Х - series производства thermo electron для решения рутинных и исследовательских задач. снижение влияния матрицы и эффективное удаление интерференций Кейт Робинсон

Кейт Робинсон (Intertech, г.Москва)

10:45-11:05

анализ изотопного состава изотопнообогащенных веществ мотодом масс - спектрометрии с индуктивно связанной плазмой Б.А.Сермягин, Л.Ю.Кокарева, О.В.Ермакова

Б.А.Сермягин (Комбинат Электрохимприбор, г.Лесной)

11:05-11:45

расширение возможностей оптических эмиссионных спектрометров - определение нерастворимых компонентов (включений) и анализ распределения элементов по сечению образца - для идентификации сегрегаций в металлах Марсель Кеттенис

Марсель Кеттенис (Spectro, г.Москва)

11:45-12:25

преимущества использования матричного пзс детектора в оптической схеме черни - тернера: исп спектрометр activa фирмы jobin - yvon horiba К.В.Аникин, М.Ю.Нехин, Р.Сума

К.В.Аникин (Найтек Инструментс, г.Москва)

12:25-13:00

ЛАЗЕРНЫЙ ЭЛЕМЕНТНЫЙ АНАЛИЗАТОР LEA S 500 - Оборудование XXI века! В.Д.Копачевский, М.А.Кривошеева

М.А.Кривошеева (Солар Тии, Минск)

13:00-14:00

ОБЕД

ДНЕВНОЕ ЗАСЕДАНИЕ. Актовый зал. 14:00 - 18:30

14:00-14:20

современный рентгеновский анализ в науке и производстве Н.В.Яковлев

Н.В.Яковлев (Bruker, г.Москва)

14:20-14:40

Перспективы увеличения скорости счета полупроводниковых и сцинтиляционных спектрометров ионизирующих излучений М.П.Белоусов, О.В.Игнатьев

О.В. Игнатьев (УГТУ-УПИ, г.Екатеринбург)

14:40-14:55

приборы для ик - фурье спектроскопии компании thermo electron corporation Т.Б.Кимстач

Т.Б.Кимстач (Intertech, г.Москва )

14:55-15:20

совместное использование термоанализа и спектрометрических методов Т.И.Ветрова

Т.И.Ветрова (Netzsch Geraetebau, г.Москва)

15:20-15:40

Компания «Элемент» - Ваш партнер по поставке и обслуживанию оборудования Шимадзу М.Ю.Макаренко

М.Ю.Макаренко (НПП «Элемент», г.Екатеринбург)

15:40-16:00

Применение атомно-абсорбционных спектрометров серии «Спектр» в аналитических исследованиях Л.Ф. Прищепов, И.А. Земскова, В.А.Кривозубов, Н.Е.Мальцев

В.А.Кривозубов (Союзцветметавтоматика, г.Москва)

16:00-16:30

КОФЕ-БРЕЙК

16:30-16:50

ContrAAâ 300 - первый серийный атомно-абсорбционный спектрометр с источником непрерывного спектра Е.В.Костерина, А.О.Дьяков

Е.В.Костерина (Аналитик Йена АГ, г.Москва)

16:50-17:10

лазерный эмиссионный спектральный анализ состава покрытий с помощью многоканального измерительного регистратора спектров мирс Е.Л.Сурменко, Т.Н.Соколова, А.А.Пеплов, А.П.Дёмин

Е.Л.Сурменко (СГТУ, г.Саратов)

17:10-17:25

приборы для молекулярной спектроскопии компании PERKIN ELMER Я.В.Соковников

Я.В.Соковников (PerkinElmer, г.Москва)

17:25-17:45

НОВЫЕ ПРИБОРЫ ДЛЯ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА О.Г.Торонов

О.Г.Торонов (ОКБ «Спектр», г.С-Петербург)

17:45-18:05

установка для определения элементного состава вещества методом атомно - эмиссионного анализа в жидком, твердом и газообразном состояниях Н.Г.Внукова, В.А.Лопатин, Г.А.Глущенко, Г.Н.Чурилов

Н.Г. Внукова (ИФ СО РАН, г.Красноярск)

18:05-19:00

СТЕНДОВАЯ СЕССИЯ

19:00

товарищеский ужин

среда, 14 СЕНТЯБРЯ 2005, 10:00 - 19:00 

9:00-10:00

ЗАВТРАК

УТРЕННЕЕ ЗАСЕДАНИЕ. Актовый зал. 10:00 - 13:00

10:00-10:20

Ароматические b - аминопропионовые кислоты - новые люминисцентные реагенты для определения меди в водных растворах Л.К.Неудачина, Е.В.Осинцева, Н.В.Печищева, Ю.Г.Ятлук, К.Ю.Шуняев, А.А.Вшивков

Л.К. Неудачина (УрГУ, г.Екатеринбург)

10:20-10:40

анализатор рнтгенофлуоресцентный энергодиспер-сионный с полупроводниковым детектором бра 18 Е.М.Лукьянченко, В.А.Проничев, Ю.А.Магдин, В.Н.Анисимов, Э.И.Винц, Д.А.Петраков, А.Ю.Грязнов

Е.М. Лукьянченко (НПП «Буревестник», г.С-Петербург)

10:40-11:00

ик - спектрометрическое определение содержания воды в триэтаноламине М.Ф.Ахметов, В.М.Голик

М.Ф. Ахметов (ФГУП УЭХК, г.Новоуральск)

11:00-11:20

роль и место метода прямого анализа металлических образцов на спектрометре с индуктивно связанной плазмой с искровой абляцией в аналитической лаборатории В.Н.Самопляс, Н.Н.Гаврилюков, В.В.Мандрыгин

В.Н. Самопляс (ЗСМК, г.Новокузнецк)

11:20-11:40

термическое разложение продуктов взаимодействия оксидов рзэ с компонентами атмосферы воздуха В.А.Кочедыков

В.А. Кочедыков (ИВЭХ УрО РАН, г.Екатеринбург)

11:40-12:00

ПРИМЕНЕНИЕ ПОРТАТИВНЫХ РЕНТГЕНОВСКИХ СПЕктрометров для определения толщин покрытий Б.Д.Калинин, Г.В.Мирончик, Р.И.Плотников

Г.В.Мирончик (Сургутнефтегаз, г.Сургут)

12:00-12:20

Опыт применения МАРФ-001 для экспресс-анализа титановых сплавов Д.В.Игнатьев, А.И.Коссе, С.Г.Морозов, А.А.Пулин

А.А.Пулин (УГТУ-УПИ, г.Екатеринбург)

12:20-12:40

Определение серы в сырье и продуктах медеплавильного производства методом ИК-спектроскопии на приборе SC 144 DR LEС С.Б.Коршунова

С.Б.Коршунова (ОАО «Святогор», г.Красноуральск)

12:40-13:00

Аналитические результаты на ДФС-51 с новым источником ИВС-500 Н.Ф.Нестеренко

Н.Ф.Нестеренко (ОКБ «Спектр», г.С.-Петербург)

13:00-14:00

ОБЕД

ДНЕВНОЕ ЗАСЕДАНИЕ. Актовый зал. 14:00 - 19:00

14:00-14:30

методы контроля качества результатов испытаний продукции, применяемые в оао «уралэлектромедь» М.В.Тришкина, И.П.Демин, С.В.Каретникова, Е.В.Купряжкина, С.В.Мазгалин

М.В.Тришкина (г.Верхняя Пышма)

14:30-14:50

синтез и аттестационные исследования государственных стандартных образцов состава рутения Д.Г.Лисиенко, М.А.Домбровская

Д.Г.Лисиенко (УГТУ-УПИ, г.Екатеринбург)

14:50-15:10

совершенствование номенклатуры стандартных образцов для спектрального анализа Г.А.Самарина, А.Г.Трофимова, Т.И.Игнатенко

Г.А.Самарина (ИСО, г.Екатеринбург)

15:10-15:30

метрологическое обеспечение технических средств аналитических лабораторий, применяемых в области спектрального анализа А.С.Тетюрев

А.С.Тетюрев (УНИИМ, г.Екатеринбург)

15:30-16:00

межлабораторные сличения - эффективное средство обеспечения качества и достоверности результатов измерений О.Б.Пономарева, С.В.Шпаков

С.В.Шпаков (УНИИМ, г.Екатеринбург)

16:00-16:30

КОФЕ-БРЕЙК

16:30-17:00

экспресс исследование элементного состава конструкционного графита лазерно - искровым методом А.М.Скрипкин, П.А.Хатюшин, Ю.С.Виргильев, Е.А.Корнеев

А.М. Скрипкин (НПО «Тайфун», г.Обнинск)

17:00-17:20

Исследование возможности определения Np-237 в урановых материалах методом ИСП-МС Т.И.Кисель

Т.И.Кисель (УЭХК, г.Новоуральск)

17:20-17:40

ОПЫТ РАБОТЫ КУРСОВ ПОВЫШЕНИЯ КВАЛИФИКАЦИИ В ОБЛАСТИ АТОМНО-ЭМИССИОННОГО СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА Д.Г.Лисиенко, М.А.Домбровская, В.Ю.Кара-Ушанов

Д.Г.Лисиенко (УГТУ-УПИ, г.Екатеринбург)

17:40-18:00

Определение химического состава поверхностных отложений на оболочках циркониевых твэлов ИСП-АЭС методом И.М.Смирнова, И.Н.Кучкина

И.М.Смирнова (ФГУП ВНИИАР, г.Дмитровград)

18:00-19:30

СТЕНДОВАЯ СЕССИЯ

19:30-20:30

ужин

четверг, 15 СЕНТЯБРЯ 2005, 10:00 - 12:00 

9:00-10:00

ЗАВТРАК

УТРЕННЕЕ ЗАСЕДАНИЕ. Актовый зал. 10:00 - 12:00

10:00-10:20

рентгенофлуоресцентный анализ сталей и сплавов с использованием отношения интенсивностей аналитических линий Б.Д.Калинин, Г.В.Мирончик, Р.И.Плотников

Б.Д.Калинин (НПО «Спектрон», г.С-Петербург)

10:20-10:40-

Применение атомно-эмиссионной спектроскопии с фотодиодной регистрацией спектра для целей судебно-медицинской экспертизы А.И.Дробышев, А.Е.Аладышкина*

А.И.Дробышев (СПбГУ, г.Санкт-Петербург)

10:40-11:00

Опыт работы по массовому анализу объектов окружающей среды (в порядке дискуссии) Б.А.Сермягин, Л.Ю.Кокарева, О.В.Ермакова

Л.Ю.Кокарева (Электрохимприбор, г.Лесной)

11:00-11:20

закрытие конференции

12:00

отъезд участников конференции

15:00

отъезд участников конференции