02.02.2011 // 19:22:28

---

ASC пишет:
...
Для этого нужна ЭСХА: X-ray Photoelectron Spectroscopy

---

02.02.2011 // 21:27:32

---

Nimraad пишет:
По базовому образованию я минералог, для микрозондовых систем являюсь потребителем, для ИСП-системы являюсь оператором.

1. С помощью ИСП с лазерной абляцией можно посмотреть распределение элементов и фаз на шлифе минерала с локальностью 30-50 мкм, причём наилучшие результаты будут в диапазоне концентраций 10-10000 г/т. Для более высоких концентраций применяется обычная электронная микроскопия, у которой и локальность лучше примерно на порядок, и воспроизводимость выше.

2. Определение степени окисления элементов с помощью микрозонда задача не тривиальная и сильно зависит от фазового состава. В частности, разработанная методика для Fe2+/Fe3+ в пироксенах практически не применима ни к слюдам, ни к хлоритам, ни к амфиболам, поскольку при используемых токах эти минералы разрушаются. Аналогичная проблема для соединений меди. Мне известны работы по локальному определению степени окисления железа в слюдах с использованием ИК спектров в дополнение к микрозондовым данным. ИСП проблему степени окисления элементов не решит.

3. Современные микрозонды (тот же Оксфорд инструментс получше и подороже, а Джеол поскромнее) углерод измеряют сравнительно точно, при этом обычным для создания необходимой для зонда проводящей поверхности на геологических образцах является напыление графитом. В случае необходимости углерод измерять придётся пылить чем-то другим (золотом к примеру).

Возможно, перед покупкой оборудования Вам имеет смысл воспользоваться модным ныне аутсорсингом и сходить поработать с Вашими образцами в различные лаборатории. Как микрозондов, так и лазерной абляции сейчас в стране валом, любые комбинации оборудования при желании можно на Ваших конкретных задачах опробовать.

---

03.02.2011 // 12:17:33

---

Novichok01 пишет:
Можно посмотреть эту же ссылку и не найти в ней

---

03.02.2011 // 12:28:54

---

qw пишет:
А Вы слишали о таком чудо-приборе, как cканирующий Оже микроскоп? 5-10 нм латерально и до 2 нм по глубине.
А по поводу точности Х-макса - у Вас какая площадь приемника ?
И еще - Вы не задумывались, почему до сих пор Окфорд выпускает волно-дисперсионные приставки к микроскопам? Они медленно копят сигнал, жрут газ. Причина одна - точность.

---

  Ответов в этой теме: 25
  Страница: 1 2 3
  «« назад || далее »»

Ответ на тему